この記事ではオープンショート試験(短絡開放試験)について
- オープンショート試験(短絡開放試験)とは
- オープンまたはショート時に確認する項目
を図を用いて分かりやすく説明しています。
オープンショート試験とは
オープンショート試験は基板上の部品の端子をオープン(開放)またはショート(短絡)させた時に、周辺部品やパターンが異常な状態にならないかを確認する試験です。
オープンまたはショート時に
- 出力電圧は出ているか
- 発煙・発火の危険はないか
- 感電の危険はないか(1次-2次間の絶縁性能を満足している状態かどうか)
- 音の大きさはどれくらいか
- パターン剥がれはないか
- 壊れている部品はなにか
等を確認します。
イメージとしては、上図に示すようなフライバックコンバータを一例に取ると、各部品をオープンまたはショートさせ、表に試験結果を記述します。試験結果は「異常なし(出力電圧が出ている)」、「ICの保護回路が働いて出力停止」、「入力ヒューズの溶断」となるような結果が望ましいです。
補足
- オープンショート試験では多くの部品が壊れます(特にヒューズ,半導体,IC)。そのため、オープンまたはショート時に想定される故障部品をあらかじめ多く用意しておくことが必要です。
- オープンショート試験は短絡開放試験やアブノーマル試験とも呼ばれています。
- 発煙については各メーカーの内部規格により細かく規定されている場合があり、たばこ1本～2本程度の煙はOKと判定しているメーカーもあります。
まとめ
この記事ではオープンショート試験(短絡開放試験)ついて、以下の内容を説明しました。
当記事のまとめ
- オープンショート試験(短絡開放試験)とは
- オープンまたはショート時に確認する項目
お読み頂きありがとうございました。
当サイトでは電気に関する様々な情報を記載しています。当サイトの全記事一覧には以下のボタンから移動することができます。
